°Ô½ÃÆÇ

Àç´Ü °øÁö»çÇ×
Ç÷¿ì´º½º
Ãë¾÷Á¤º¸
ÀÚÀ¯°Ô½ÃÆÇ
Ç÷¿ì°¡Á· À̾߱â
FAQ

Ãë¾÷Á¤º¸

2019. SK ÇÏÀ̴нº »ó¹Ý±â ½ÅÀÔ»ç¿ø ¸ðÁý
ÀϹݰü¸®ÀÚ ¤Ó 2019-03-08 12:30 ¤Ó 2506

2019. SK ÇÏÀ̴нº »ó¹Ý±â ½ÅÀÔ»ç¿ø ¸ðÁý

 

 

 

1. ¸ðÁýºÎ¹® ¹× ÀÚ°Ý¿ä°Ç

Á÷¹«¸í

Mission ¹× ÁÖ¿ä ¼öÇà ¾÷¹«

ÀÚ°Ý¿ä°Ç

¼³°è

¡¼Analog¼³°è¡½

 ⦁ ½Åȣ󸮸¦ À§ÇÑ È¸·Î ¼³°è, Chip ¿ä±¸ ±â´É ±¸Çö µîÀÇ

   ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼Digital¼³°è¡½

 ⦁ Chip Spec.¿¡ ºÎÇÕÇÏ°í PPA (PowerPerformance

    Area)¿¡ ÃÖÀûÈ­µÈ Digital IP °³¹ß µîÀÇ ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼¹èÄ¡¼³°è¡½

 ⦁ BlockÀÇ ¹èÄ¡¿Í Chip ÃÖÀûÈ­ À§ÇÑ È¸·Î ¹èÄ¡ ¹× ¹è¼± ¾÷¹«

   ¼öÇà

¡¼Verification¡½

 ⦁ °øÁ¤°³¹ß, ¾ç»ê´Ü°èÀÇ ½ÃÇàÂø¿À ÃÖ¼ÒÈ­¸¦ À§ÇØ °³¹ß ¼³°è

  ´Ü°èÀÇ È¸·Î °ËÁõ ¹× ºÒ·®ºÐ¼® ¾÷¹« ¼öÇà

4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

ÀüÀÚ, Àü±â, ÀüÆÄ, ¹ÝµµÃ¼, Á¤º¸Åë½Å, ÄÄÇ»ÅÍ,

  ¹°¸® µî °ü·Ã Àü°ø

ºÐ¼®Àû »ç°í, Àü·«Àû »ç°í, ¼ºÃëÁöÇâ Çൿ¿ª·®

  ÇÊ¿ä

Noise ¼ººÐ ±Ô¸í, Design Constraint ¼³°è,

  Circuit modeling µîÀÇ Skill ÇÊ

¼ÒÀÚ

¡¼Process Integration¡½

 ⦁ Á¶±â Á¦Ç° °³¹ß ¹× Â÷¼¼´ë Á¦Ç° °³¹ßÀ» À§ÇØ Cell scheme

   °áÁ¤, ÃÖÀû Design Rule µµÃâ µîÀÇ ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼Device¡½

 ⦁ Â÷¼¼´ë Á¦Ç°ÀÇ °³¹ß ¹× ¾ç»ê ÀÌ°üÀ» À§ÇØ PCM(Pulse

  Code Modulation) Ư¼º ºÐ¼®, °í¼º´É Transistor °³¹ß,

  ¼º´É °³¼± µîÀÇ ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼Failure Analysis¡½

 ⦁ ½ÅÁ¦Ç° Àû±â °³¹ß ¹× ¾ç»ê ¼öÀ² Çâ»óÇ°Áú °³¼±À» À§ÇØ

   ¼öÀ² Çâ»ó °èȹ ¼ö¸³, Ư¼º ¸¶Áø È®º¸, ½ÇÀå Ư¼º È®º¸ µîÀÇ

   ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼Layout Design Rule¡½

 ⦁ ¿øÈ°ÇÑ ¼³°è ÁøÇàÀ» À§ÇØ, PDK °³¹ß, MASK ¹× Design

   Manual Á¦ÀÛ ¹× °ü¸® µîÀÇ ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼Pixel°³¹ß¡½

 ⦁ °íÈ­¼Ò°íÈ­Áú Image Sensor Á¦Ç° °³¹ßÀ» À§ÇØ, New IP

  °³¹ß ¹× Simulation, Ư¼º ºÐ¼®, Pixel Layout µîÀÇ ¾÷¹«

  ¼öÇà

4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

ÀüÀÚ, Àü±â, ½Å¼ÒÀç, ¹°¸®, ¹ÝµµÃ¼ µî °ü·Ã Àü°ø

ºÐ¼®Àû »ç°í, º¯È­ °ü¸®, ÀÇ»ç °áÁ¤ Çൿ¿ª·®

  ÇÊ¿ä

Integrated Technology Á¦Ç° °³¹ß, TCAD

  (Technology Computer-Aided Design)

  Simulation, Fail ¿øÀÎ ºÐ¼®, Process Design Kit

  °³¹ß µîÀÇ Skill ÇÊ¿ä

PKG°³¹ß

¡¼Package ¼³°è¡½

 ⦁ Device ÃÖÀûÈ­ Package ¼³°è ¹× °í°´ ¼±µµ Á¦Ç° °³¹ß

¡¼Package Á¦Ç°°³¹ß¡½

 ⦁ Package Àû±â °³¹ß ¹× ¿ø°¡±â¼ú °æÀï·Â È®º¸

¡¼Package ±â¼ú°³¹ß¡½

 ⦁ ¿ä¼Ò±â¼ú °³¹ßÀ» ÅëÇÑ °³¹ß ¿Ï¼ºµµ ±Ø´ëÈ­

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ÀüÀÚ, Àü±â, Àç·á, È­ÇÐ, È­°ø, ¹°¸®, ¹ÝµµÃ¼, ±â°è

    µî ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ °ü·Ã Àü°øÀÚ

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ Process Àü¹ÝÀÇ ÀÌÇØ°¡ ³ôÀº ÀÚ,

   °ü·Ã ¿ª·® ¿ì¼öÀÚ

¾ç»ê/±â¼ú

¡¼¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶°øÁ¤ Àü¹ÝÀÇ Àåºñ°øÁ¤ºÐ¾ß ¿£Áö´Ï¾î¸µ¡½

 ⦁ Photo, Etch, Diffuision, ThinFilm, C&C µî °øÁ¤¼öÀ²

   Çâ»ó, °øÁ¤´Ü¼øÈ­, ¿ø°¡Àý°¨, °øÁ¤Çõ½Å µî

¡¼TEST ÇÁ·Î±×·¥ °³¹ß(Wafer, Package, Module)¡½

 ⦁ Test±â¼ú·ÂÀ» ÅëÇÑ ¼¼°è ÃÖ°í Test ¿ø°¡ °æÀï·Â È®º¸

¡¼PackageÁ¦Á¶±â¼ú¡½

 ⦁ »ý»ê È¿À² ±Ø´ëÈ­ ¼öÀ² °³¼± ¹× Ç°Áú ¾ÈÁ¤È­¸¦ ÅëÇÑ

    Global No 1 PKGÁ¦Á¶±â¼ú °æÀï·Â È®º¸

¡¼TestÁ¦Á¶±â¼ú¡½

 ⦁ Test Á¦Á¶ ±â¼ú·Â Çâ»ó ¹× Àåºñ ±â¼ú·Â °­È­¸¦ ÅëÇÑ ¼¼°è

   ÃÖ°íÀÇ ¿ø°¡ °æÀï·Â È®º¸

¡¼»ý»ê°èȹ¡½

 ⦁ ¼öÀͼº¿¡ µû¸¥ Àü·«Àû Á¦Ç° ¿î¿µÀ» ±â¹ÝÀ¸·Î »ý»ê ¸ñÇ¥

    ´Þ¼º ¹× P&T ¿î¿µ È¿À² ±Ø´ëÈ­

 ⦁ ±³´ë±Ù¹« °¡´ÉÀÚ

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ÀüÀÚ, Àü±â, Àç·á, È­ÇÐ, È­°ø, ¹°¸®, ¹ÝµµÃ¼,

   ±â°è, »ê¾÷°øÇÐ µî ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ °ü·Ã Àü°øÀÚ

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ Process Àü¹ÝÀÇ ÀÌÇØ°¡ ³ôÀº ÀÚ,

   °ü·Ã ¿ª·® ¿ì¼öÀÚ

¾ç»ê°ü¸®

¡¼¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶°øÁ¤ Àü¹ÝÀÇ »ý»ê°ü¸®¡½

 ⦁ ÀÚµ¿È­ System °ü¸®

 ⦁ Áö¼ö°ü¸®

 ⦁ ±³´ë±Ù¹« °¡´ÉÀÚ

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ »ê¾÷°øÇÐ Àü°øÀÚ

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ Process Àü¹ÝÀÇ ÀÌÇØ°¡ ³ôÀº ÀÚ,

   °ü·Ã ¿ª·® ¿ì¼öÀÚ

Solution SW

Mobile Storage & SSD Firmware °³¹ß ¹× °ËÁõ

 ⦁ Firmware °³¹ß ¹× °ËÁõ

 ⦁ Embedded System ȯ°æ ±¸Ãà

 ⦁ Linux °³¹ß ȯ°æ ±¸Ãà

 ⦁ Android Driver °³

 ⦁ ´ëÇб³ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çлç

   ¼®»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ÄÄÇ»ÅÍ ÀüÀÚ ¹× ÄÚµùÀÌ °¡´ÉÇÑ ÀÚ (C/C++ ¾ð¾î

   °¡´ÉÀÚ)

Product

Engineering

¡¼DRAM/Flash/Mobile¡½

 ⦁ ÃÖ°íÀÇ Á¦Ç° Ư¼º°³¹ß

 ⦁ ÃÖÀûÀÇ Test Base Line °³¹ß

 ⦁ Big Data MiningÀ» ÅëÇÑ Ç°Áú°³¹ß

 ⦁ Application¿¡¼­ÀÇ ErrorºÐ¼®À» ÅëÇÑ Solution Á¦°ø

 ⦁ Design & Process Ư¼º °ËÁõ

 ⦁ Test Program °³¹ß µîÀÇ ¾÷¹« ¼öÇà

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ Àü±â, ÀüÀÚ, ÄÄÇ»ÅÍ °ü·Ã Àü°ø

 ⦁ »ç¿ë ÇÁ·Î±×·¥Tool

   - ÇÁ·Î±×·¡¹Ö ¾ð¾îÅë°è, ºÐ¼®¿ë ÇÁ·Î±×·¥

System

Engineering

¡¼°í°´ ½ÇÀå Æò°¡¸¦ ÅëÇÑ Á¦Ç° °³¹ß¡½

 ⦁ ½ÇÀåÆò°¡ °ËÁõ ¹× ºÒ·®ºÐ¼® ±×¹Û¿¡ Æò°¡ Infra ȯ°æ

   ±¸ÃàÀ» À§ÇÏ¿© ´Ù¾çÇÑ OS ±â¹ÝÀÇ TEST Program ¿¬±¸

   °³¹ß, Æò°¡ ¿ë HW, SW ¿¬±¸°³¹ß·Î ÀÚ»ç DRAMÁ¦Ç°°úÀÇ

   ÀûÇÕ¼º ¿¬±¸

¡¼PCB ¼³°èÇؼ®°ËÁõ ¹× ºÒ·® ºÐ¼®¡½

 ⦁ PCB Layout¼³°è, ºÐ¼®, Æò°¡¿Í S/I Simulation ¹× ºÐ¼®

   Tool, Software °³¹ß µî ¿ÏÁ¦Ç°ÀÇ °ËÁ¤À» ÅëÇÑ ½ÅÁ¦Ç°

   °³¹ß ¾÷¹« ¼öÇà

¡¼ÀÀ¿ë Solution °³¹ß¡½

 ⦁ S/W Ãø¸é¿¡¼­ °³¹ß ½ÅÁ¦Ç°ÀÌ ½Ã½ºÅÛ level ¿¡¼­ µ¿ÀÛÇÒ

   ¼ö ÀÖ°í Ư¼º Test°¡ °¡´ÉÇϵµ·Ï Software solution

   (Driver, BIOS, Firmware)°³¹ßÀ» ¼öÇàÇϸç H/W Ãø¸é¿¡

    ¼­´Â FPGA¸¦ È°¿ëÇÑ Test chip °³¹ß°ú Test infra¸¦ ±¸Ãà

    ÇÏ´Â Hardware solution °³¹ß ´ã´ç

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ Àü±â, ÀüÀÚ, ÀüÆÄ, ¹ÝµµÃ¼, Àü»ê, ÄÄÇ»ÅÍ, Á¤º¸

   Åë½Å, Á¦¾î °èÃø°øÇÐ, ¹°¸®Çаú µî

 ⦁ Àü¹ÝÀûÀÎ ½ÇÀå System ÀÌÇØ, C-programming

   È°¿ë´É·Â, BIOS ¿Í Firmware(FTL Æ÷ÇÔ) ÀÌÇØ ¹×

    ±¸Çö, System ¿î¿µÃ¼Á¦ (Linux, windows) ÀÌÇØ

Utility񃬣

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶°øÁ¤ÀÇ ¿øÇÒ ÇÑ ÁøÇàÀ» À§ÇÑ Utility ¼³ºñ ±¸Ãà

    ¹× ¾ÈÁ¤Àû ¿î¿µ

   ¨ç ±â°è¼³ºñ±â¼ú

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼ Clean Room Environmental(¿Âµµ, ½Àµµ,

   Particle, Ventilation) À¯Áö À§ÇÑ ³Ãµ¿°øÁ¶ ¼³ºñ ±¸Ãà ¹×

   ¿î¿µ

 ⦁ ´ë±â¿À¿°¹æÁö½Ã¼³ ¹× ¼öÁú¿À¿°¹æÁö ½Ã¼³ ±¸Ãà ¹× ¿î¿µ

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼Á¦Á¶ÀåÄ¡¿ë ÃÊ°í¼øµµ ¹è°ü ½Ã°ø

 ⦁ ÃÊ°í¼øµµ Gas, Chemical, Ultra Pure Water, Steam,

    Vacuum, ³Ã°¢¼ö Á¦Á¶ °ø±Þ ¼³ºñ ±¸Ãà ¹× ¿î¿µ

   ¨è Àü±â¼³ºñ±â¼ú

 ⦁ 154kV ¼öº¯Àü¼³ºñ, Power Panel ¹× ºñ»óÀü¿ø°ø±ÞÀåÄ¡

   ±¸Ãà ¹× ¿î¿µ

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ Àü±â, Àü±â°ø»ç, °øÁ¶³Ãµ¿±â°è, ¼³ºñº¸Àü, È­°ø,

  (´ë±â)ȯ°æ µî Çѱ¹»ê¾÷Àη°ø´Ü ±¹°¡±â¼úÀÚ°Ý

   ¼ÒÁöÀÚ ¿ì´ë

 ⦁ ÇØ´ç Àü°ø

   - ±â°è°øÇÐ, È­ÇаøÇÐ, Àü±â°øÇÐ µî °ü·ÃÇаú

ȯ°æ¾ÈÀü

º¸°Ç

 ⦁ ¼±Á¦Àû SHE Legal Free¸¦ ÅëÇÑ SHE»ç°í¿¹¹æ ¹× °æ¿µRisk

   ¸¦ ZeroÈ­ÇÏ¿© Áö¼Ó°¡´É¹ßÀüÃß±¸

¡¼¾ÈÀüºÐ¾ß¡½

 ⦁ ¾ÈÀü°ü¸®ÀÚ ¹ýÀû¼±ÀÓ, ¹ýÀû¾÷¹«¼öÇà, °æ¿µ½Ã½ºÅÛ, PSM,

   ÀÎÇã°¡´ë°ü, ¾ÈÀü¹®È­°³¼±, ³»ºÎ°¨»ç ¹× Áø´Ü¾÷¹«, ¾ÈÀü

    ¼Ò¹æ½Ã¼³ °ü¸®, °Ç¼³ ÇöÀå ¾ÈÀü°ü¸®, Pump & Scrubber

   À¯Áö°ü¸®

¡¼º¸°ÇºÐ¾ß¡½

 ⦁ º¸°Ç°ü¸®ÀÚ ¹ýÀû¼±ÀÓ, ¹ýÀû¾÷¹«¼öÇà, ÀÛ¾÷ȯ°æÃøÁ¤, È­ÇÐ

   ¹°Áú°ü¸®, ÀÎÇã°¡´ë°ü, °Ç°­°ü¸® ¹× ÁõÁø, º¸°Ç¼±Ç࿬±¸

¡¼È¯°æºÐ¾ß¡½

 ⦁ ȯ°æ°ü¸®ÀÚ ¹ýÀû¼±ÀÓ, ¹ýÀû¾÷¹«¼öÇà, ȯ°æ°ü¸®(¼öÁú´ë±â

   Æó±â¹°¿Â½Ç°¡½º), ȯ°æ¼ºÀû ¹× ź¼Ò¹ßÀÚ±¹ ÀÎÁõ¾÷¹« ¼öÇà

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ¾ÈÀü, »ê¾÷º¸°Ç, ȯ°æ, È­ÇÐ, È­°ø ¹× ±âŸ À¯°ü

    ºÐ¾ß

 ⦁ ÀÚ°ÝÁõ

   - »ê¾÷¾ÈÀü±â»ç, »ê¾÷À§»ý±â»ç, ¼öÁú´ë±âÆó±â

       ¹°°ü¸®±â»ç, È­°ø±â»ç, Àΰ£°øÇбâ»ç, À§Çè¹°

       »ê¾÷±â»ç µî

 ⦁ »ó±ÞÀÇ Office È°¿ë´É·Â, Reporting ´É·Â, ¿Ü±¹

    ¾î ¿ì¼öÀÚ ¿ì´ë, »õ·Î¿î ºÐ¾ß¿¡ ´ëÇÑ ÇнÀÀÇÁö¿Í

    ¿­Á¤ÀÌ ÀÖ´Â ÀÚ

 

Ç°Áúº¸Áõ

¡¼Á¦Ç°ÀÎÁõ¡½

 ⦁ Ç°Áú ¿Ï¼ºµµ È®º¸¸¦ À§ÇØ ÀÎÁõ Æò°¡ ±âÁØÀ» ¼ö¸³ÇÏ°í

    Æò°¡ºÐ¼®À» ÅëÇÑ Á¦Ç° ÀÎÁõ(Qualification)¾÷¹« ¼öÇà

¡¼¾ç»êÇ°Áúº¸Áõ¡½

 ⦁ Ç°Áú Monitoring, °øÁ¤ ºÎÀû°Ý ÀÚÀçó¸®, °øÁ¤ º¯°æ°ü¸®,

   ÃâÇÏ Ç°Áú °Ë»ç µîÀ» ¼öÇàÇÏ¿© °øÁ¤ Ç°ÁúÀ» °ü¸®

¡¼°í°´Ç°Áú¡½

 ⦁ °í°´ ºÒ·®¿¡ ´ëÇÑ °³¼± ´ëÃ¥À» ¼ö¸³ÇÏ°í °í°´È¯°æ ÆÄ¾Ç ¹×

    ³»ºÎ Ç°Áú °³¼± È°µ¿ Drive¸¦ ÅëÇÑ Ç°Áú °³¼±¾÷¹« ¼öÇà

¡¼ºÒ·®ºÐ¼®¡½

 ⦁ ÀÎÁõ¾ç»ê°í°´ ºÒ·® °³¼±À» À§ÇØ Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ ºÐ¼®¾÷¹«

    (Elect, Application µî) ¼öÇà

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ÀüÀÚÀü±â, Àç·á, È­ÇÐÈ­°ø, ¹°¸® µî ¹ÝµµÃ¼ °ü·Ã

    Àü°øÀÚ

¿µ¾÷

 ⦁ ȸ»çÀÇ ¸ÅÃâ ¹× ÀÌÀ± ±Ø´ëÈ­¸¦ À§ÇØ °í°´, ½ÃÀå, °æÀï»ç

    M/I (Market Intelligence)¸¦ ¹ÙÅÁÀ¸·Î °í°´ Áö¿ªº° ÆǸÅ

    °èȹ°ú ¿µ¾÷Àü·« ¼ö¸³ ½ÇÇà ¹× °í°´ Communication

   Áö¿ø µî ¿µ¾÷ ¾÷¹« Àü¹Ý ¼öÇà

 ⦁ ÃÖ°íÀÇ ¸ÅÃâÀ» ´Þ¼ºÇϱâ À§ÇØ °í°´, ½ÃÀå, °æÀï»ç¸¦ ºÐ¼®

    ÇÏ¿© »ý»ê, Àç°í, ÀÎÁõ, Ç°ÁúÀ̽´ µîÀ» °¨¾È ÃÖÀûÀÇ ´Ü±â

    ÆǸŰèȹ ¼ö¸³ÇÏ°í ´ë³»¿Ü Çù¾÷ Á¶Á÷ÀÇ Ã¢±¸¿ªÇÒÀ» ¼öÇà

   ÇÏ¿© ¿µ¾÷ Àü¹ÝÀ» ±âȹÇÔ

¡¼B2B ¿µ¾÷¡½

 ⦁ °í°´ Intimacy ¹× ÆǸÅÈ°µ¿

 ⦁ ½ÃÀ嵿Çâ, °í°´¼ö¿ä, °æÀï»ç M/I ¼öÁý ¹× ºÐ¼®

 ⦁ ÇöÁö Sales L/H/C

 ⦁ ¿µ¾÷ Àü·« ¼ö¸³

 ⦁ ½Å±Ô ½ÃÀå°í°´ ¹ß±¼

¡¼B2B ¿µ¾÷±âȹ¡½

 ⦁ ¿µ¾÷±âȹ

 ⦁ 6°³¿ù ¼ö¿ä°ø±Þ ÃÖÀûÈ­

 ⦁ SCM Management

 ⦁ Sales Operation management

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ÀüÀÚ, ÄÄÇ»ÅÍ, Åë°è, °æ¿µ, °æÁ¦

 ⦁ ¿Ü±¹¾î ´É·Â

   - ¿µ¾î(Çʼö), Áß±¹¾î(¿ì´ë)

¸¶ÄÉÆÃ

 ⦁ ¾ÈÁ¤Àû Biz. È®´ë ¹× ¼öÀͼº ±Ø´ëÈ­¸¦ À§ÇØ ±Þº¯ÇÏ´Â ½ÃÀå

    È帧, µ¿ÇâÀ» ÆľǺм®ÇÏ¿© ¼±Á¦Àû Àü·« ¼ö¸³(Product

    mix µî) ½ÅÁ¦Ç° Àû±â Á¦¾È(ÀÎÁõ) µî ÀÀ¿ë Á¦Ç°¿¡ ´ëÇÑ

     Marketing È°µ¿À» ¼öÇà

   - °í°´ ¸¸Á· ½ÇÇöÀ» À§ÇØ ºÒ·®¿¡ ´ëÇÑ Biz. Impact°ËÅä,

      °í°´±â¼ú Áö¿ø, °í°´ ´ë»ó ½ÅÁ¦Ç° Sample Àû±â Á¦°ø,

      °í°´ ÀÎÁõ ȹµæ µî ±â¼ú ±â¹Ý Marketing È°µ¿À» ¼öÇà

¡¼Application ¸¶ÄÉÆá½

 ⦁ ´Ü±âÁßÀå±â Marketing Àü·« ¼ö¸³ ¹× ½ÇÇà

 ⦁ »ç¾÷°èȹ ¼ö¸³

 ⦁ Tech Migration ¼ö¸³

 ⦁ ½ÅÁ¦Ç° Àü·« ¼ö¸³

¡¼±â¼ú ¸¶ÄÉÆá½

 ⦁ Inquiry ó¸®

 ⦁ °í°´ ´ëÀÀ ¹× °ü¸®

 ⦁ °í°´ ÀÎÁõ

 ⦁ °í°´ Ç°Áú È®º¸

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

 ⦁ ÀüÀÚ, ÄÄÇ»ÅÍ, Åë°è, °æ¿µ, °æÁ¦

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼°øÇÐ, ¹°¸®ÀüÀÚ°øÇÐ À̼ö(¼±È£)

 ⦁ ¿Ü±¹¾î ´É·Â

   - ¿µ¾î(Çʼö), Áß±¹¾î(¿ì´ë)

»óÇ°±âȹ

 ⦁ °í°´ Needs¿¡ ºÎÇÕÇÏ´Â Á¦Ç° °³¹ßÀ» À§ÇØ Á¦Ç°ÀÇ Line

   up ¹× Àü·« °áÁ¤, ½ÅÁ¦Ç°À» ÃÖÀûÀÇ Á¶°ÇÀ¸·Î Enabling,

   Ç¥ÁØÈ­ È°µ¿À» ÅëÇÑ ÀÚ»ç Line-up ¹× Target Spec ¹Ý¿µ

    µîÀ» ¼öÇàÇÏ¿© »óÇ° ±âȹ

   - ¸Þ¸ð¸® & ±â¼ú Trend ÀÌÇظ¦ ÅëÇÑ ¹Ì·¡ º¯°îÁ¡ ¿¹Ãø

   - ÁßÀå±â Roadmap & ÃÖÀûÀÇ Target Spec °³¹ß,

     Industry (°í°´ & Partner)¿Í Alignment ÃßÁø ¹× °ËÁõ

   - ÁßÀå±â Roadmap Àü»çÇÕÀÇ ¹× ±âȹ Process¿¡ µû¸¥

      °³¹ßÃßÁø

   - ½ÅÁ¦Ç° Enbaling ÃßÁøÀ¸·Î Biz-Win ´Þ¼º

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ (Çл缮»ç¹Ú»ç)

   (¼®»çÀÌ»ó ¿ì´ë)

 ⦁ ÀüÀÚ, ÄÄÇ»ÅÍ

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼±âÃÊ°øÇÐ(¼±È£), System Architecture

   (¼±È£)

 ⦁ ¿Ü±¹¾î ´É·Â

   - ¿µ¾î(Çʼö), Áß±¹¾î(¿ì´ë)

±¸¸Å

¡¼Àåºñ±¸¸Å¡½

 ⦁ ¼±Á¦Àû Q/C/D ´ëÀÀ ü°è ±¸ÃàÀ» À§ÇÑ °èȹ ±â¹Ý ±¸¸Å

   Process ±¸Ãà, ÇÙ½É ÀåºñºÎÇ° ´ë»ó °æÀï üÁ¦ ±¸Ãà

¡¼¿øÀÚÀ籸¸Å¡½

 ⦁ ´ç»ç ÁßÀå±â ¼ö¿ä¿¡ µû¸¥ ¼±Á¦Àû ¿øÀÚÀç ¼ö±Þ ´ëÀÀ·Â

    °­È­, ½Å±Ô¾ç»ê ¿øÀÚÀç ¿î¿µ Àü·« ¼ö¸³ ¹× ½ÇÇà

¡¼Infra±¸¸Å¡½

 ⦁ »ý»ê Infra Àû±â ±¸Ãà, ÃÖÀû ¿î¿µ À§ÇÑ °Ç¼³¼³ºñ / IT Infra

   ±¸¸Å ´ëÀÀ·Â °­È­

¡¼±â¼ú±¸¸Å¡½

 ⦁ ±¸¸Å Ç°Áú Çâ»óÀ» À§ÇÑ ±¸¸Å Spec / BP °ü¸® ±âÁØ ¼ö¸³,

   Ç°Áú ±â¹Ý BP Pool °ü¸® ¹× Audit

¡¼±¸¸ÅÀü·«¡½

 ⦁ ÁßÀå±â ±¸¸Å Àü·«Á¤Ã¥ ¼ö¸³, ±¸¸Å °æ¿µ°èȹ °ü¸®, Risk

   Monitoring, IT / Data ±â¹ÝÀÇ ±¸¸Å ¾÷¹« Çõ½Å, BP¿ÍÀÇ

   »ó»ýÇù·ÂÀ» ÅëÇÑ »çȸÀû °¡Ä¡ Á¦°í

 ⦁ 4³âÁ¦ Çлç ÀÌ»ó Á¹¾÷(¿¹Á¤)ÀÚ

 ⦁ ÀüÀÚ, Àç·á, È­ÇÐ, È­ÇаøÇÐ, ¹°¸® ¹ÝµµÃ¼ °ü·Ã

    Àü°øÀÚ ¹× °æ¿µÇÐ, ȸ°èÇÐ, ¿µ¾îÁß±¹¾îÀϾî

    °ü·Ã Àü°øÀÚ (º¹¼öÀü°øÀÚ ¼±È£)

 ⦁ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ Process Àü¹ÝÀÇ ÀÌÇØ°¡ ³ôÀº ÀÚ,

   °ü·Ã ¿ª·® ¿ì¼öÀÚ

 ⦁ °æ¿µÀ繫ȸ°è ºÐ¼®, °æ¿µ Àü·« ¼ö¸³ °ü·Ã ¿ª·®

    ¿ì¼öÀÚ

R&D°øÁ¤

(¹Ú»ç)

¡¼Photo¡½

 ⦁ 'EUV Process Improvement

 ⦁ Optical Simulation

 ⦁ Exposure Tool Anaysis & Control based on Source

   Parameter

 ⦁ Machine Learning & Deep Learning for Metrology

   Analysis & Optical Proximity Correction

¡¼Etch_µ¥ÀÌÅͺм®¡½

 ⦁ ÁÖ¿ä Etch °øÁ¤ÀÇ Profile / CD µî¿¡ ´ëÇÑ Data ºÐ¼® ¹×

   Parametric Study

 ⦁ °ü·Ã °øÁ¤ÀÇ °³¼± ¹æÇâ¿¡ ´ëÇÑ Smart DOE ºÐ¼®À» ÅëÇÏ¿©

   °³¼±¾È µµÃâ

 ⦁ °ü·Ã °øÁ¤¿¡ ´ëÇÑ OES Data µî ¿¬°ü Internal Parameter

ºÐ¼®

 ⦁ °øÁ¤ÀÇ Parameter ÀÇÁ¸¼º°ú OES Data µîÀ» Á¢¸ñÇÑ

   Physical Model ¼ö¸³

 ⦁ °øÁ¤Àåºñ °ü·Ã Big Data ºÐ¼®À» ÅëÇÑ °øÁ¤ °³¼± ¹æ¾È

   µµÃâ ¹× Etch Àåºñ °³¼± ¹æÇâ Á¦¾È

 ⦁ µµÃâµÈ °³¼± Ç׸ñÀ¸·Î Àåºñ°³¹ß Roadmap °³¼±Ç׸ñ Ãß°¡

   ¹× Lead

¡¼Etch_HARC¡½

 ⦁ DRAM (SN), NAND (Plug / Slit) Etch °øÁ¤ °³¹ß

 ⦁ HARC ÀåÄ¡ÀÇ Road-map°ú °³¹ß ¹æÇâ¿¡ ´ëÇÑ B.P»ç¿Í

   Çù¾÷

 ⦁ HARC Etch ¿¹Ãø ¸ðµ¨ °³¹ß

 ⦁ HARC Etch Åë°è ºÐ¼® ¹æ¹ý·Ð °³¹ß

¡¼Thinfilm¡½

 ⦁ 'DRAM Scailing¿¡ µû¸¥ BG ±Ý¼Ó Àü±Ø °³¹ß

  - W ¿¬°è ºÒ·® Çؼ® ¹× °³¼± È°µ¿

  - W ºñÀúÇ× °³¼± ¹× Stress Á¶Àý

¡¼°øÅ롽

 ⦁ '19³â 8¿ù ¹Ú»ç Á¹¾÷ (¿¹Á¤) ÀÚ

¡¼Photo¡½

 ⦁ Àü°ø

   - ¹°¸®, È­ÇÐ, ¼öÇÐ, Àü±âÀüÀÚ, »ê¾÷°øÇÐ, È­ÇÐ,

      È­°ø

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Solid Physics µî Semiconductor °ü·Ã Áö½Ä,

      Optical System ÀÌÇØ

¡¼Etch_µ¥ÀÌÅͺм®¡½

 ⦁ Àü°ø

   - »ê¾÷°øÇÐ, ±â°è°øÇÐ, Åë°èÇÐ, ¹°¸®ÇÐ, Àü±â

       °øÇÐ, Àç·á°øÇÐ, ±â°è°øÇÐ µî

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Ãß°¡·Î ÇÊ¿äÇÑ ¿ª·® ±âÀç ¿ä¸Á

    1-1 Python, R ȤÀº ÀÌ¿¡ ÁØÇÏ´Â

            Programming Language Skill Level ñé

            ÀÌ»ó

    1-2 ÇöóÁ °øÁ¤ Modeling °æÇè êó

    1-3 Åë°èºÐ¼® / DOE µî È°¿ë °æÇè ¼ÒÀ¯ÀÚ

¡¼Etch_HARC¡½

 ⦁ Àü°ø

   - ¹°¸®È­ÇÐÈ­°øÀç·á

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Ãß°¡·Î ÇÊ¿äÇÑ ¿ª·® ±âÀç ¿ä¸Á

¡¼Thinfilm¡½

 ⦁ Àü°ø

   - ¹ÝµµÃ¼, Àü±â, ÀüÀÚ, ¹°¸®, Àç·á, È­°ø

R&D¼ÒÀÚ

(¹Ú»ç)

¡¼PI¡½

 ⦁ Â÷¼¼´ë DRAM Á¦Ç° ¿¬±¸ °³¹ß

   - Â÷¼¼´ë DRAM Á¦Ç°ÀÇ architecture, process, ¼ÒÀÚ

      °³¹ß

   - ½Å¹°Áú °³¹ßÀ» ÅëÇÑ DRAM cell Tr. Gate ÀúÇ× °³¼±

   - ½Å ¹°Áú °ü·ÃµÈ Paper ¹× Ÿ»ç ƯÇã Search Â÷¼¼´ë

     NAND Á¦Ç° ¿¬±¸ °³¹ß

   - Â÷¼¼´ë 3D NAND Á¦Ç°ÀÇ architecture, process, ¼ÒÀÚ

      °³¹ß

   - 3D NAND ¼º´É Çâ»ó, defect °³¼±, ¼öÀ² Çâ»ó

   - ½ÅÁ¦Ç° ±âȹ ¹× ¼³°è

¡¼Device TCAD¡½

 ⦁ 3D NAND Device TCAD Modeling ¹× Calibration

   - Device Model °³¹ß

   - ºÐÆ÷ ¿¹Ãø TCAD Analysis ¹æ¹ý·Ð ±¸Ãà

   - ºÐÆ÷ ¿¹Ãø Tool Upgrade

   - ºÐÆ÷ ModelingÀ» À§ÇÑ C Programming

   - Â÷¼¼´ë ¹ÝµµÃ¼ µ¿ÀÛ ¸ÞÄ¿´ÏÁò ºÐ¼® ¹× ÃÖÀûÈ­ °³¹ß

       Â÷¼¼´ë Tech °í¼º´É Peri. Tr. °³¹ß TCAD Modeling

      ¹× Calibration

   - °í¼º´É Peri. Tr. °³¹ß TCAD Modeling

   - ½Å·Ú¼º Æò°¡ ¹× °³¼± TCAD Analysis ¾÷¹«

   - TCAD ApplicationÀ» ÅëÇÑ D/R Á¦¾È ¹× °ü¸® para

     µµÃâ

   - ºÐÆ÷ ¿¹Ãø TCAD Analysis ¹æ¹ý·Ð ±¸Ãà

   - Â÷¼¼´ë ¹ÝµµÃ¼ µ¿ÀÛ ¸ÞÄ¿´ÏÁò ºÐ¼® ¹× ÃÖÀûÈ­ °³¹ß

¡¼Process Simulation¡½

 ⦁ ÀåºñÀ¯µ¿ ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç Àü¹® ¿¬±¸

   - Àü»êÀ¯Ã¼¿ªÇÐ, ¹ÝÀÀ°øÇÐ, Ç¥¸é°øÇÐ, ÀüÀÚ±âÇÐ, ÇöóÁ

       ÀÀ¿ë

   - °í³­µµ °øÁ¤ ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç Çؼ®À» ÅëÇÑ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ (Etch,

      Diffusion, ALD, CVD Thin Film, CMP µî) °³¹ß ¹×

       »ý»ê¼º °³¼±

   - In-House CFD Simulation Tool °³¹ß

 ⦁ Á¦ÀÏ¿ø¸® ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ºÐ¼® Àü¹® ¿¬±¸

   - Á¦ÀÏ ¿ø¸® ±â¹ÝÀÇ ¿øÀÚ·¹º§ ¹°¼º ¿¹Ãø ºÐ¼®

   - ¿øÀÚ·¹º§ ¹°¼º ¿¹ÃøÀ» ÅëÇÑ ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤ Àç·á ½ºÅ©¸®´×

      ¹× µðÀÚÀÎ

   - ¹Ì·¡ ¸Þ¸ð¸® ¼ÒÀÚ ½Å¹°Áú °³¹ß°ú Á¦Á¶ °øÁ¤ ÃÖÀûÈ­

   - Â÷¼¼´ë ¹ÝµµÃ¼ Á¦Á¶ °øÁ¤ ¸ÞÄ¿´ÏÁò ºÐ¼® ¹× ÃÖÀûÈ­ °³¹ß

   - ¿øÀÚ·¹º§ ¸ðµ¨¸µ Àü»ê ÀÎÇÁ¶ó ±¸Ãà ¹× ¸ÖƼ½ºÄÉÀÏ ½Ã¹Ä

      ·¹ÀÌ¼Ç ¹æ¹ý·Ð °³¹ß

 ⦁ ¸Þ¸ð¸® ¹ÝµµÃ¼ ±â°èºÒ·® ¸ðµ¨¸µºÐ¼® ¾÷¹«

   - ±ÞÁõÇÏ´Â ±â°è ºÒ·® ¸ðµ¨¸µºÐ¼® ¹× °³¼± ¹æÇâ Á¦½Ã

   - ±â°èºÒ·®ÀÇ ¾ç»óÀÌ Multi physics ±â¹ÝÀÇ º¹ÇÕ Çö»ó

      À¸·Î Multi physics Çؼ®ÀÇ Æ¯È­ Àη ÇÊ¿ä

   - Çü»ó º¯È­¿Í ¹°¸® ¸ðµ¨ÀÇ ¿¬°è Çؼ®ÀÇ Á߿伺ÀÌ ºÎ°¢

      µÇ¾î profile-stress ¿¬°èÇؼ® °æÇèÀÚ ÇÊ¿ä

¡¼Device Modeling¡½

 ⦁ FinFET °³¹ß ´ëÀÀ Modeling

 ⦁ BSIM¿¡¼­ Á¦°øÇÏÁö ¾Ê´Â Ư¼º Modeling (Local Layout

   Effect, Mobility Boosting Scheme µî

    LogicTechnology ´ëÀÀ)

 ⦁ BSIM-BULK, BSIM-CMG µî Â÷¼¼´ë ¸ðµ¨ ¿¬±¸ ¹× ÀÚ»ç

   Àû¿ë

¡¼½Å·Ú¼º ºÐ¼®¡½

 ⦁ ¼ÒÀÚ ¿­È­ model ÃßÃâ Àü´ã (Productº° DRAM /

   NAND)

 ⦁ ¿­È­ Çö»ó ¸ðµ¨¸µ

 ⦁ ¼³°è ½Å·Ú¼º ºÐ¼®(Circuit simulationÀ» ÅëÇÑ ½Å·Ú¼º ºÐ¼®)

 ⦁ Á¦Ç° ½Å·Ú¼º À̽´ ºÐ¼®

¡¼°øÅ롽

 ⦁ '19³â 8¿ù ¹Ú»ç Á¹¾÷ (¿¹Á¤) ÀÚ

¡¼PI¡½

 ⦁ Àü°ø

   - Àü±âÀüÀÚÀç·áÈ­°ø¹°¸®

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - ¹ÝµµÃ¼ ¼ÒÀÚ / DRAM Architecture / Cell

     µ¿ÀÛ ¿ø¸® µîÀÇ ±âº» Áö½Ä ½Àµæ ÀÚ, ±âÃÊ Åë°è

      ºÐ¼®

¡¼Device TCAD¡½

 ⦁ Àü°ø

   - ¹°¸®È­ÇÐÀç·á°øÇÐ/ÀüÀÚ/Àü±â

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Poly Channel Modeling

   - ONOA Transport Modeling

   - TCAD Tool (Sprocess, Sdevice)

   - Computer Programming (C++, Python,

      Matlab)

   - ¹ÝµµÃ¼ ¹°¼º ¹× New Material °ü·Ã Àü°ø

   - Device Physics °ü·Ã °ú¸ñ ¼ö°­

   - TCAD Device Modeling

   - TCAD Tool (Sprocess, Sdevice)

¡¼Process Simulation¡½

 ⦁ Àü°ø

   - ±â°èÈ­ÇÐÀç·á¹°¸®¹ÝµµÃ¼Àü±âÀüÀÚ

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Á¦ÀÏ¿ø¸® ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ºÐ¼® Àü¹® ¿¬±¸

   - Computational Fluid Dynamics

   - Gas-Surface Reaction Engineering

   - Electrmagnetics, Plasma Engineering

   - Molecular dynamics, Kinetic Monte Carlo

   - Fluent, Comsol, CFD-ACE etc.

   - Computer Programming (C++, Python,

      Matlab)

   - OpenMP/MPI Parallel computation, High-

     Performance computing

 ⦁ Á¦ÀÏ¿ø¸® ½Ã¹Ä·¹ÀÌ¼Ç ºÐ¼® Àü¹® ¿¬±¸

   - Non-Equilibrium Greens Function Method

   - Quantum Transport Modeling, Boltzmann

     Transport Modeling

   - Molecular dynamics, Kinetic Monte Carlo

   - VASP, LAMMPS, TranSiesta

   - Computer Programming (C++, Python,

      Matlab)

   - OpenMP/MPI Parallel computation, High-

     Performance computing

 ⦁ ¸Þ¸ð¸® ¹ÝµµÃ¼ ±â°èºÒ·® ¸ðµ¨¸µºÐ¼® ¾÷¹«

   - Mechanical Stress Modeling

   - Thermal, Structure, Fluid ¿¬°è Çؼ® ´É·Â

   - topology simulaton Tool

   - Topology-Stress ¿¬°èÇؼ®

¡¼Device Modeling¡½

 ⦁ Àü°ø : Àü±âÀüÀÚ, ¹°¸®

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Algorithm °³¹ß ¹× Programming

¡¼½Å·Ú¼ººÐ¡½

 ⦁ Àü°ø

   - ÀüÀÚ (¼ÒÀÚ / Compact modeling Àü°ø)

 ⦁ ±âŸ ¿ä±¸ ¿ª·®

   - Programming skill, circuit ºÐ¼®, Á¦Ç° ºÐ¼®,

      Device physice / Device reliability &

      modeling  

 

2. ÀüÇü¹æ¹ý

ÀüÇüÀýÂ÷

 ⦁ ¼­·ùÀüÇü ¢¡ ÇÊÁöÀüÇü ¢¡ ¸éÁ¢ÀüÇü

Á¢¼ö±â°£

 ⦁ ¡®19. 03. 04.(¿ù) ~ 03. 15.(±Ý)

Á¢¼ö¹æ¹ý

 ⦁ ȨÆäÀÌÁö(http://www.skhynix.com) ÀÔ»çÁø¿ø

±âŸ»çÇ×

 ⦁ ä¿ëȨÆäÀÌÁö ä¿ë¹®ÀÇ ÂüÁ¶

 

 

3. ¹®ÀÇ

  ¡Ý Çѱ¹Ç÷¿ìÀç´Ü º¹Áö±âȹÆÀ ¢Ï 02-3473-6100

÷ºÎÆÄÀÏ